廣泛的測量對象：
無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)測量。
半導(dǎo)體元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)測量。
其它元件：印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評估。
介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)的損耗角評估。
磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評估。
半導(dǎo)體材料：半導(dǎo)體材料的介電常數(shù),導(dǎo)電率和C-V特性。
液晶材料：液晶單元的介電子常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性。

多種元件、材料特性測量能力
揭示電感器件的多種特性
1790**的性能和20Hz-1 MHz的測試頻寬可以**地分析磁性材料、電感器件的性能。
　　使用JK10301選件的100mA DC的偏置電流可以**測量高頻電感器件、通訊變壓器，濾波器的小電流疊加性能。使用TH1775電流疊加裝置，

可使偏置電流達(dá)40A以**分析高功率、大電流電感器件。

**的陶瓷電容測量
1kHz和1MHz是陶瓷材料和電容器的主要測試頻率。陶瓷電容器具有低損耗值的特征，同時(shí)其容量、損耗施加之交流信號(hào)會(huì)產(chǎn)生明顯的變化。
　　儀器具有寬頻測試能力并可提供良好的準(zhǔn)確度，六位分辨率和自動(dòng)電平控制（ALC）功能等，中以滿足陶瓷材料和電容器可靠、準(zhǔn)確的測試需要。

液晶單元的電容特性測量
電容－電壓（C－Vac)特性是評價(jià)液晶材料性能的主要方法，常規(guī)儀器測量液晶單元的C－Vac特性遇到一個(gè)問題是*大測試電壓不夠。
　　使用JK10301選件可提供分辨率為1%及*高達(dá)20Vms的可編程測試信號(hào)電平，使它能在*佳條件下進(jìn)行液晶材料的電容特性測量。

半導(dǎo)體材料和元件的測量
進(jìn)行MOS型半導(dǎo)體制造工藝評價(jià)時(shí)，需要氧化層電容和襯底雜質(zhì)密度這些參數(shù)，這些可從C－Vdc特性的測量結(jié)果推導(dǎo)出來。
　　20HZ－1　MHz的測量頻寬及高達(dá)40VDC的可編程偏置電壓方可方便地完成C-VDC特性的測量。
　　為了測試晶圓上的半導(dǎo)體器件，需要延伸電纜和探頭，儀器的2m/4m延伸電纜選件可將電纜延伸的誤差降至*小。
　　各種二極管、三機(jī)管、MOS管的分布電竄也是本儀器的測試內(nèi)容。

適應(yīng)多種領(lǐng)域的測試需要

新材料、新元件的研究開發(fā)
 1790具有的0.05%/0.1%基本準(zhǔn)確度極大提高了測量的可信度。儀器提供的六位分辨率可以檢測元件參數(shù)的細(xì)微變化，

提高生產(chǎn)效率
 1790　30次/秒的測試速度可滿足大多數(shù)生產(chǎn)場合高效測試的需要，從而提高生產(chǎn)廠的產(chǎn)能。
　　內(nèi)建比較器、電纜長度補(bǔ)償、Handler接口可方便地用于自動(dòng)測試系統(tǒng)。
　　內(nèi)建存儲(chǔ)器及USB外存裝置可大大減小操作時(shí)間并降低聽任錯(cuò)誤。
應(yīng)用廣泛的品質(zhì)檢驗(yàn)手段
儀器具備的20Hz-1MHz的頻寬及5mVms-20ms的信號(hào)電平范圍可滿足絕大多數(shù)元件的檢測需要。
　　JK10301　及　JK1775的配置解決了器件直流偏置測量的要求。
　　提供徑向、軸向、SMD元件的多種測試夾具配置。

用戶友好的操作界面
簡化的前面板操作
儀器配置的320x240點(diǎn)陣的LCD顯示器使操作者可清晰地觀察測量結(jié)果，各種設(shè)定狀態(tài)一目了然，交互式軟鍵大大簡化了儀器操作。
非易失性存儲(chǔ)器以保存多種儀器設(shè)置
1790提供有內(nèi)部非易失性存儲(chǔ)器可保存20組儀器測量設(shè)置，JK3302還具有外部USB存儲(chǔ)卡進(jìn)行數(shù)據(jù)保存及多臺(tái)儀器統(tǒng)一進(jìn)行數(shù)據(jù)設(shè)置/調(diào)用。

這將減小參數(shù)的設(shè)置錯(cuò)誤并提高用戶使用效率。
靈活的數(shù)據(jù)通訊方式
 1790提供有GPIB并行通訊接口，為多機(jī)通訊并組成自動(dòng)測試系統(tǒng)提供了可能，同時(shí)，